本文標(biāo)題："微差比較式測(cè)軸儀器微差比較式測(cè)軸儀器的構(gòu)成"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2016-7-6 22:25:4
微差比較式測(cè)軸儀器微差比較式測(cè)軸儀器的構(gòu)成
微差比較式測(cè)軸儀器微差比較式測(cè)軸儀器的構(gòu)成
每臺(tái)測(cè)量?jī)x器均由測(cè)量讀數(shù)系統(tǒng)和輔助系統(tǒng)組成。測(cè)量讀數(shù)系統(tǒng)
都有三個(gè)基本環(huán)節(jié)：測(cè)量環(huán)節(jié)或稱(chēng)傳感環(huán)節(jié)，中間變換環(huán)節(jié)和顯示
環(huán)節(jié)。這是儀器的主系統(tǒng)。此外，為了實(shí)現(xiàn)測(cè)量，還必須把被測(cè)工
件固定，良…定的位置，以便得到正確的測(cè)量。這就必須有相應(yīng)的
支承機(jī)構(gòu)、運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)和調(diào)整機(jī)構(gòu)。它們構(gòu)成r測(cè)量?jī)x的輔助系統(tǒng)。
盡管不同的儀器測(cè)量原理不同，丑示方式不一樣。但它們卻是由這
兩大部分構(gòu)成的。而且還可以利用這兩大部分。相互拼聯(lián)，構(gòu)成更
多的儀器。以解決生產(chǎn)的需要和提高測(cè)量精度。
微差比較式測(cè)軸儀器很多，常用測(cè)軸儀器——立式光學(xué)計(jì)和接
觸式干涉儀。測(cè)量過(guò)程
利用光學(xué)計(jì)測(cè)量軸徑，一般都是與量塊進(jìn)行比較。其步驟如下：
首先選擇合適尺寸的量塊和平測(cè)帽。由于光學(xué)計(jì)的刻度蓼圍為±10
0微米，因此量塊的尺寸與被測(cè)尺寸的差要小于200μm。為了提高
測(cè)量準(zhǔn)確度，這個(gè)差值應(yīng)越小越好。
后一篇文章：金剛石粉精心研磨后再用氧化鉻拋光-金相制樣 »
前一篇文章：« 軸承精確的檢驗(yàn)精密測(cè)量多功能工具顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),金相顯微鏡,上海精密儀器,
微差比較式測(cè)軸儀器微差比較式測(cè)軸儀器的構(gòu)成,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/3577.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/